FI-RXF100-RE傅里葉變換紅外發(fā)射光譜儀

產(chǎn)品簡介

紅外發(fā)射光譜(Infrared Emission Spectroscopy)是一種直接、無損地獲取物質(zhì)材料光譜信息的紅外檢測手段，是對紅外透射、紅外反射、衰減全反射(ATR)、漫反射等測量方式的有效補充。由于材料自身就是紅外的發(fā)射源，因此發(fā)射光譜應(yīng)用領(lǐng)域比較廣，如不適合做透射測量的物質(zhì)表面、強腐蝕性且不透光的樣品、發(fā)射光源的光譜特征、體積較大的物體、距離較遠的目標(biāo)、超高溫樣品的光譜特性、等離子體的發(fā)射測量等。

黑體IR-563/301的技術(shù)參數(shù)

●  溫度范圍：50-1050℃

●  溫度調(diào)節(jié)精度：0.1℃

●  發(fā)射口*大尺寸：1英寸

●  發(fā)射率：>0.99

●  發(fā)射源類型：空腔黑體

●  8個可調(diào)光闌

卓立漢光自主設(shè)計的獨立式傅里葉變換紅外發(fā)射光譜儀，該光譜儀集成專門的發(fā)射平臺，可以安裝各種不同的發(fā)射附件和參考黑體，滿足不同溫度下不同材料的表征需求。光譜儀主機配置雙檢測器位置，方便用戶隨時進行多個檢測器的切換測量。靈活的光路設(shè)計，用戶可以選擇聚焦光路或者平行光路來適合不同的樣品。此外，F(xiàn)I-RXF100-RE也可以更換內(nèi)部的光學(xué)元器件，使測量譜區(qū)擴展到近紅外波段，滿足近紅外光源的發(fā)射測量。

發(fā)射光譜的測量方式及注意事項，視樣品形態(tài)的不同而有所差別。對于薄膜樣品，可以將薄膜擔(dān)載在金屬基底上進行測量，以減少基底的輻射；制備樣品的厚度不能太大或者氣體濃度不能太高，防止樣品自吸收造成的譜圖變形；如果背景的輻射較強，在計算樣品發(fā)射率時，需要考慮將背景的發(fā)射強度扣除后，才能得到準(zhǔn)確的結(jié)果；如果樣品在測量過程中釋放出氣體，用戶需要考慮在發(fā)射裝置上增加吹掃，以減少氣體對譜圖的影響。

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域

●  研究材料的發(fā)射譜圖特性

●  計算材料的發(fā)射率

●  艾柱燃燒的發(fā)射光譜

●  陶瓷片在不同溫度下的發(fā)射光譜

●  醫(yī)療器械中各種理*儀的測試

●  (近)紅外光源的測試

●  超高溫樣品的光譜測試

●  等離子體的發(fā)射測量

●  人體穴位的發(fā)射研究

●  玻璃及建筑材料的發(fā)射測量

●  太陽能集熱管的發(fā)射測量

●  各類織物的發(fā)射測量

產(chǎn)品特點

干涉儀：高級邁克爾遜干涉儀，光路*久準(zhǔn)直，穩(wěn)定性*佳，10年質(zhì)量保證

固態(tài)激光器：性能穩(wěn)定，使用壽命達10年以上

發(fā)射源：聚焦光路，用戶的樣品或者熱源或者黑體

分束器：ZnSe材質(zhì)分束器和ZnSe窗片，防止光學(xué)器件潮解(可選KBr、石英分束器)

檢測器：內(nèi)置雙檢測器位置，可選擇常溫檢測器或者低溫MCT、銦鎵砷，可以實現(xiàn)軟件自動切換

光路設(shè)計：專用的發(fā)射光路設(shè)計，簡潔緊湊，降低輻射損失，提高輻射通量

發(fā)射附件：可定制各種附件滿足客戶的實際測試需求

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

對于室溫下的物質(zhì)的紅外發(fā)射測量，卓立漢光提供了另外一種解決方案。通過FI-RXF系列傅里葉變換紅外光譜儀主機和反射附件或者積分球附件，測量得到材料的反射光譜。根據(jù)基爾霍夫定律和能量守恒定理，我們可以非常方便地獲得室溫下不透明材料的發(fā)射率。詳細(xì)解決方案可以咨詢卓立漢光的應(yīng)用工程師。